ICS 49.040 CCS A 29 中华人民共和国国家标准 GB/T 43227—2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法 Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire 2024-01-01实施 2023-09-07发布国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会 GB/T43227—2023 前言起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国宇航技术及其应用标准化技术委员会（SAC/TC425）提出并归口。本文件起草单位：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院本文件主要起草人：赵元富、姚全斌、林鹏荣、冯小成、荆林晓、李洪剑、付明洋、林建京、曹燕红、刘思嘉、刘征宇。

GB-T 43227-2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法

文档预览

中文文档 10 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 0 收藏 3.0分

赞助2元下载(无需注册)

温馨提示：本文档共10页，可预览 3 页，如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档

GB-T 43227-2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法第 1 页

GB-T 43227-2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法第 2 页

GB-T 43227-2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法第 3 页

下载文档到电脑，方便使用

赞助2元下载

本文档由思安于 2024-01-14 23:25:44上传分享

下载原文档(1.4 MB)

友情链接

交流群

-->