ICS 31.080.01 L 40 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T4937.4—2012/IEC60749-4:2002 半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST） Semiconductordevices- Mechanical and climatic test methods- Part 4:Damp heat,steady state,highly accelerated stress test(HAST) （IEC60749-4:2002,IDT) 2012-11-05发布 2013-02-15实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会中华人民共和国国家标准半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST) GB/T4937.4—2012/IEC60749-4:2002 * 中国标准出版社出版发行北京市朝阳区和平里西街甲2号（100013) 北京市西城区三里河北街16号（100045）网址：www.gb168.cn 服务热线：010-68522006 2013年2月第一版 * 书号：155066·1-46248 版权专有侵权必究

GB-T 4937.4-2012 半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验 HAST

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