UDC 621.382.323 L 44 中华人民共和国国家标准 GB/T 15449—1995 管壳额定开关用场效应晶体管 空白详细规范 Blank detail-specification for field-effect transistors for case-rated swatching application 国家标准全文公开系统专用，此文本仅供个人学习、研究之用 未经授权，禁止复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。 全国标准信息公共服务平台：https：//stcl.samr.gov.cn 1995-01-05发布 1995-08-01实施 国家技术监督局 发布 中华人民共和国国家标准 管壳额定开关用场效应晶体管 GB/T15449-1995 空白详细规范 Blank detail-specification for field-effect transistors for case-rated swatching application 本空白详细规范规定了制订管壳额定开关用场效应晶体管详细规范的基本原则，制订该范围内的 所有详细规范应与本空白详细规范-致。 本空白详细规范是半导体器件空白详细规范系列中的-个，并应与下列规范一起使用：GB4589.1 《半导体器件分立器件和集成电路总规范》，GB12560《半导体器件分立器件分规范》。 要求资料： 本页及下页括号内所示的数字对应于以下要求资料的项目，并列入规定的栏目中。 详细规范的识别： （1）批准发布本详细规范的组织：国家标准机构的名称。 （2）详细规范的IECQ号。 （3）总规范号、分规范号和版本号。 （4）详细规范号、发布日期及国家体系要求的任何更多的资料。 器件的识别 （5）器件类型。 （6）典型结构和应用资料。如果设计一种器件满足若干应用，则在详细规范中指出。特性、极限值及 检验要求对于这些应用均应满足。如果器件为静电敏感件，或包含危险材料例如铍的氧化物，应写上警 告说明。 （7）外形图和（或）引用有关的外形文件。 （8）质量评定类别。 （9）能在器件类型之间比较的最重要的特性参考数据。 国家技术监督局1995-01-05批准 1995-08-01实施 1 GB/T 15449-—1995 (1) (2) 评定电子器件质量的根据： (3) 详细规范号【如果规范号重复IECQ号， (4) 则本栏可以不用】 GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总 规范》 GB12560《半导体器件分立器件分规范》 详细规范 (5) 【有关器件的型号】定货资料：见本规范的第7章。 1 机械说明 (7) 2 简略说明 (6) 外形标准GB7581《半导体分立器件外形尺 管壳额定开关用场效应晶体管器件类型： 《f A型：结或肖特基栅型 外形图 B型：绝缘栅耗尽型 【可以转到本规范的第10条或在该条中给出 C型：绝缘栅增强型 更多的细节】 半导体材料：[Si］ 引出端识别： 极性：(N沟或P沟】 【表示引出端功能，包括图示符号】 封装：【空腔和（或)非空腔】 标志：【字母、图形或色码】 【注意：装配静电敏感器件应遵守预防措施 【如有数据，详细规范应规定标志在器件上的 【（如果适用)） 数据】 【见总规范的第2.5条和（或）本规范的第6 条】 3质量评定类别 【如果采用特殊方法，则需极性标识】 (8) 【根据总规范的第2.6条】 参考数据 (9) [Tamb,Tea,V......] 按本详细规范鉴定合格的器件的有关制造单位的资料，可在现行的合格一览表中查到 【整个规范，在方括号内给出的条款供指导规范制订者使用，而不包括在详细规范里。】 【整个规范，用于特性和额定值处的“×”表示在详细规范中填入的值。］